热电离质谱法测定硼同位素过程中引起同质异位素干扰的有机质成分研究

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• 作者：吴赫嫔蒋少涌魏海珍晏雄
• 会议时间：2012-04-20
• 关键词：地球化学 ; 硼同位素 ; 热电离质谱法 ; 同质异位素干扰 ; 有机质成分
• 作者单位：南京大学地球科学与工程学院内生金属矿床成矿机制研究国家重点实验室,江苏 南京 210093
• 母体文献：2012年全国同位素地质新技术新方法与应用学术讨论会论文集
• 会议名称：2012年全国同位素地质新技术新方法与应用学术讨论会
• 会议地点：厦门
• 主办单位：中国地质学会
• 语种：chi

摘要

硼同位素作为一种灵敏的示踪剂,广泛地用于解决一些地质、地球化学与环境等方面的问题。但是如何获得高精度的硼同位素数据一直是人们努力的一个方向。特别是当待测样品中有有机物质存在时,无论对负离子(NTIMS)或正离子(PTIMS)热电离质谱测定均会产生同质异位素干扰,降低分析的精确度及准确度,同时也抑制硼的电离。研究表明,TIMS,MC-ICP-MS及TG-MS的研究工作共同确定了在TIMS测定硼同位素过程中引起同质异位素干扰的有机质成分中含有酰胺基(-NH2)官能团。在PTIMS测定硼同位素的化学前处理过程中如何消除酞胺基有机成分还需进一步地探讨研究。