植物叶片LA-ICP-TOF-MS元素成像研究

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• 作者：靳兰兰柴辛娜胡圣虹
• 会议时间：2010-09-12
• 关键词：元素成像 ; 激光剥蚀 ; 电感耦合 ; 等离子体飞行时间质谱仪 ; 植物叶片
• 作者单位：中国地质大学(武汉)生物地质与环境地质教育部重点实验室,武汉 130071
• 母体文献：第十五届冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2010)论文集
• 会议名称：第十五届冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2010)
• 会议地点：北京
• 主办单位：中国金属学会
• 语种：chi

摘要

本文采用LA-ICP-TOF-MS固体微区分析技术对植物叶片基体和激光剥蚀参数进行了探讨,发现植物基体具有均一性这一特性,确定了激光剥蚀电感耦合等离子体飞行时间质谱仪的最佳工作参数,并初步实现了对Cu、Mn、Zn、Pb在植物叶片的元素成像,为植物学研究提供了一种微区分析新技术。