《失效分析应用技术》新书介绍
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  • 中文刊名：LHJW
  • 英文刊名：Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)
  • 机构：《理化检验-物理分册》编辑部;
  • 出版日期：2019-06-08
  • 出版单位：理化检验(物理分册)
  • 年：2019
  • 期：v.55
  • 语种：中文;
  • 页：LHJW201906004
  • 页数：1
  • CN：06
  • ISSN：31-1338/TB
  • 分类号：26
摘要
<正>由上海材料研究所教授级高级工程师王荣编著的《失效分析应用技术》一书,已于2019年4月由机械工业出版社出版。该书全面系统地介绍了失效分析中常用的分析技术和方法,内容包括失效分析概述、现场勘查技术、宏观分析技术、断口分析技术、金相分析技术、定量分析技术、X射线分析技术、电子光学分析技术、痕迹分析技术、裂纹分析技术、失效诊断
        
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