数字温度传感器DS18B20的关键时序研究

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英文篇名：Study on Critical Timing Sequence of Digital Sensor DS18B20 作者：李建兰 ; 邵建龙 英文作者：Li Jianlan;Shao Jianlong;Yunnan Vocational College of Mechanical and Electrical Technology;Faculty of Information Engineering and Automation of Kunming University of Science and echnology; 关键词：单片机 ; DS18B20 ; 时序 ; 测温系统 英文关键词：MCU;;DS18B20;;Timing Sequence;;Temperature Measurement System 中文刊名：WDZC 英文刊名：Electronic Test 机构：云南机电职业技术学院;昆明理工大学信自学院; 出版日期：2018-01-05 出版单位：电子测试 年：2018 期：No.383 语种：中文; 页：WDZC201801049 页数：3 CN：01 ISSN：11-3927/TN 分类号：116-118

摘要

时序是影响数字温度传感器DS18B20正常工作的重要因素,由于各单片机执行速度不同,测温系统出现了在晶振频率相同的情况下,同一段程序在AT89C2051单片机中运行工作正常,而在其兼容单片机STC12C2052中运行却无法得到正确的结果。因此,本文采用Keil软件里的性能分析器计算程序段的延时时间,研究了DS18B20的关键时序,结合指令代码的执行时间分析,通过对其中关键代码的修改,使程序在STC12C2052中运行时也能达到DS18B20的时序要求,正确读出温度值。此方法对于具有时序要求的可编程器件的使用具有一定的借鉴价值。
        This paper uses the performance analyzer in Keil software program section of the delay time on the key timing of DS18 B20,analysis of instruction execution time of the code with the modified key code,the program can achieve timing DS18 B20 running in the STC12 C2052 request when the correct temperature read out.This method has a certain reference value for the use of programmable devices with timing requirements?

引文

[1]黄海军,黄金林,聂章龙,等.基于MC9S08GB60芯片的DS18B20测温系统设计[J].江苏技术师范学院学报,2007,13(2):22-27.
    [2]STC12C125410AD系列单片机器件手册[EB/OL]宏晶科技,http://www.mcu-memory.com/datasheet/STC12C/STC12C-AD-PDF/STC12C5410AD.pdf
    [3]DS18B20中文资料[M/OL].http://datasheets.maxim-ic.com/en/ds/DS18B20.pdf