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9.90nm NMOS器件TDDB击穿特性研究
作者:周鹏举
论文级别:硕士
学位年度:2007
10.MOSFET隧穿漏电流噪声特性及测试方法研究
作者:赖忠有
关键词:栅漏 ; 电流噪声 ; 隧穿
论文级别:硕士
学位年度:2009
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