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中图分类法(2)
工业技术(2)
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1.
基于刻蚀衍射光栅的芯片光谱仪研究
作者:
马骁
关键词:
芯片光谱仪
;
光电子集成
;
刻蚀衍射光栅
;
金属探测器
;
半导体工艺
;
芯片实验室
授予学位:博士
学位授予单位:浙江大学
学位年度:2013
2.
基于1.7微米波长区域的单片集成扫频光学相干层析成像系统的研究
作者:
焦雨清
关键词:
量子点结构
;
光探测器
;
光放大器
;
可调谐激光器
;
单片集成
;
光学相干层析成像系统
;
磷化铟
;
半导体材料
授予学位:博士
学位授予单位:浙江大学
学位年度:2013
1
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