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中图分类法(1)
工业技术(1)
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1.
基于ARM的显微成像对光学薄膜的缺损检测系统
作者:
闫庭辉
关键词:
数字显微镜
;
光学薄膜
;
缺损检测系统
;
显微成像
;
图像传感器
授予学位:硕士
学位授予单位:西安电子科技大学
学位年度:2016
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