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中图分类法(1)
工业技术(1)
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1.
基于r-ADMM算法的轴向超分辨荧光显微技术研究
作者:
李金瑜
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陈友华
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韩伟
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尚禹
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桂志国
关键词:
显微
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全内反射荧光显微镜
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交替方向乘子算法
;
轴向超分辨率
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逆问题求解
年:2019
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2019年(1)