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中图分类法(14)
工业技术(14)
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CNKI学位论文
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1.
集成电路成品率预测技术与面向成品率的设计
作者：
叶翼
关键词：
多项目晶圆
;
掩模布局
;
面向成品率设计
;
成品率预测
;
线形缺陷
;
关键面积
;
冗余单元
;
缺陷分析
论文级别：
博士
学位年度：2013
2.
集成电路随机缺陷成品率预测技术研究
作者：
朱椒娇
关键词：
成品率预测
;
随机缺陷成品率
;
关键面积
;
缺陷模型
;
可制造性设计
;
成品率驱动设计
;
Voronoi图
;
多边形算子方法
论文级别：
博士
学位年度：2013
3.
基于复用的数字集成电路设计关键技术研究
作者：
潘伟涛
关键词：
规律性提取
;
标准单元
;
数据挖掘
;
门级集成电路
;
频繁子电路
;
同构子电路
论文级别：
博士
学位年度：2010
4.
集成电路局部缺陷及其相关的功能成品率和电迁徙问题的研究
作者：
姜晓鸿
关键词：
局部缺陷
;
IC
关键面积
;
功能成品率
;
可靠性
;
电迁徙
论文级别：
博士
学位年度：1998
5.
基于嵌入式的手持式自动抄表系统的研究与设计
作者：
马骁
关键词：
STM32F103ZET6
;
红外通信
;
FLASH
;
USB
;
以太网
论文级别：
硕士
学位年度：2012
6.
集成电路设计中针对随机缺陷的成品率研究
作者：
朱丹丹
关键词：
集成电路
;
随机缺陷
;
关键面积
;
成品率预测
;
成品率提升
论文级别：
硕士
学位年度：2011
7.
集成电路功能成品率仿真与优化技术研究
作者：
马佩军
关键词：
集成电路
;
功能成品率
;
仿真
;
关键面积
;
优化设计
论文级别：
博士
学位年度：2000
8.
成品率估计与提升技术研究
作者：
张俊明
关键词：
成品率
;
关键面积
;
线性规划
论文级别：
硕士
学位年度：2009
9.
嵌入式SRAM/SSRAM/FLASH控制器的设计及
关键面积
算法研究
作者：
张国霞
关键词：
关键面积
算法
;
通用存储器控制器
;
SRAM/SSRAM/FLASH控制器
论文级别：
硕士
学位年度：2009
10.
集成电路后端设计中半导体芯片的成品率优化
作者：
李熙国
关键词：
IC
;
Compiler
;
成品率
;
芯片设计
;
集成电路
论文级别：
硕士
学位年度：2008
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