中图分类法(11)
工业技术(11)
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1.源漏诱生应变Si/Ge沟道MOSFET关键技术研究
作者:周谦
关键词:源漏诱生应变 ; 应变Si ; 应变 ; Ge ; SiC ; GeSn
论文级别:博士
学位年度:2012
4.深亚微米RF-CMOS器件物理与模型研究
作者:郑伟
关键词:MOSFET ; RF ; CMOS ; PSP模型 ; Layout优化
论文级别:硕士
学位年度:2012
9.GaN基HEMT高温特性及热可靠性研究
作者:姜守高
论文级别:硕士
学位年度:2010
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