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中图分类法(11)
工业技术(11)
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1.
源漏诱生应变Si/Ge沟道MOSFET关键技术研究
作者:
周谦
关键词:
源漏诱生应变
;
应变Si
;
应变
;
Ge
;
Si
C ;
GeSn
论文级别:
博士
学位年度:2012
2.
碳化硅PMOS器件特性模拟及仿真
作者:
郜锦侠
关键词:
碳化硅PMOS器件
;
界面态
;
源漏串联电阻
;
有效迁移率
;
漏击穿
论文级别:
硕士
学位年度:2002
3.
超深亚微米LDD MOSFET器件模型及热载流子可靠性研究
作者:
于春利
关键词:
热载流子效应
;
超深亚微米
;
LDD
;
MOSFET
;
I-V模型
;
衬底电流
;
参数提取
;
应力
;
退化
论文级别:
博士
学位年度:2005
4.
深亚微米RF-CMOS器件物理与模型研究
作者:
郑伟
关键词:
MOSFET
;
RF
;
CMOS
;
PSP模型
;
Layout优化
论文级别:
硕士
学位年度:2012
5.
4H-SiC隐埋沟道MOSFET理论和实验研究
作者:
郜锦侠
关键词:
碳化硅
;
埋沟MOSFET
;
工作模式
;
C-V特性
;
电流电压关系
;
工艺
;
测试
论文级别:
博士
学位年度:2005
6.
碳化硅MOSFET的高温模型及关键工艺研究
作者:
韩茹
关键词:
碳化硅
;
补偿电流源
;
体漏电流
;
普尔-弗兰克效应
;
欧姆接触
论文级别:
硕士
学位年度:2006
7.
基于ISE的MOSFET器件电学特性模拟分析与研究
作者:
张学锋
关键词:
高k电介质
;
钝化层
;
器件模拟
;
MOSFET
;
电学特性
论文级别:
硕士
学位年度:2009
8.
深亚微米LDD MOSFET器件热载流子效应研究
作者:
饶伟
关键词:
热载流子效应
;
LDD
;
MOSFET
;
衬底电流模型
;
可靠性
论文级别:
硕士
学位年度:2009
9.
GaN基HEMT高温特性及热可靠性研究
作者:
姜守高
关键词:
AlGaN/GaN
;
高温特性
;
热存储
;
电流崩塌
论文级别:
硕士
学位年度:2010
10.
亚100nm SOIMOSFET器件新结构及其性能研究
作者:
曹寒梅
关键词:
绝缘体上硅
;
亚100nm
;
全耗尽
;
新结构
;
特性
论文级别:
硕士
学位年度:2005
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