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1.电子探针定量分析方法通则
标准编号：GB/T 15074-2008
标准类型：国家标准
发布单位：全国微束分析标准化技术委员会
发布日期：2008-06-16
实施日期：2009-03-01
2.金属及合金的电子探针定量分析方法
标准编号：GB/T 15616-2008
标准类型：国家标准
发布单位：全国微束分析标准化技术委员会
发布日期：2008-08-20
实施日期：2009-04-01
3.波谱法定性点分析电子探针显微分析导则
标准编号：GB/T 20725-2006
标准类型：国家标准
发布单位：全国微束分析标准化技术委员会
发布日期：2006-12-25
实施日期：2007-08-01
4.钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法
标准编号：GB/T 17360-2008
标准类型：国家标准
关键词：硅 ; 定量分析钢 ; 含量测定锰
发布单位：全国微束分析标准化技术委员会
发布日期：2008-06-16
实施日期：2009-03-01
5.黄金制品金含量无损测定方法 第1部分:电子探针微分析法
标准编号：GB/T 17363.1-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国微束分析标准化技术委员会
发布日期：2009-03-19
实施日期：2009-12-01
6.锗单晶电阻率直流四探针测量方法
标准编号：GB/T 26074-2010
标准类型：国家标准
发布日期：2011-01-10
实施日期：2011-10-01
7.硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
标准编号：GB/T 6617-2009
标准类型：国家标准
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
8.硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
标准编号：GB/T 14146-2009
标准类型：国家标准
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
9.船舶黑色金属腐蚀层的电子探针分析方法
标准编号：GB/T 17506-2008
标准类型：国家标准
发布日期：2008-06-16
实施日期：2009-03-01
10.硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
标准编号：GB/T 1552-1995
标准类型：国家标准
关键词：测量硅 ; 半导体材料 ; 电阻率锗
发布日期：1995-04-18
实施日期：1995-12-01
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