熔片‐XRF法测定区域地质矿产调查样品中主次痕量元素/组分

详细信息   

• 责任者：杜少文^c中国人民武装警察部队黄金第三支队^d1975^f工程师 ; 卢安民 ; 孟令晶 ; 李勇 ; 武洋 ; 王晓勇
• 刊名：黄金
• 出版年：2013
• 卷期：34^b3总348
• 关键词：X射线荧光光谱 ; 痕量元素20^a次要元素分析 ; 主要元素分析 ; 区域地质调查 ; 检出限 ; 准确度 ; 标准样品
• 页码：75～80
• 索书号：P422.106/589-2
• 图表：^c表7参5插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：2013/09

摘要

利用Axios XRF型X射线荧光光谱仪的全自动顺序扫描功能，以及经验校正和基体校正技术，建立了测定区域地质矿产调查样品中46种元素/组分的分析方法。粉末样品以电热熔融法制成玻璃片状，选择最佳仪器工作条件，通过对国家一级标准物质GBW 07401(GSS‐1)进行检测，各元素/组分的测定值与标准值相符，测定结果的均方根值(RMS，n=12)小于1.0%。