X射线荧光光谱法测定萤石中氟化钙、二氧化硅、氧化铝、全铁的含量

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• 责任者：李韶梅^c河北钢铁集团邯钢技术中心^d1969^f高级工程师 ; 杜彩霞 ; 张慧娟
• 刊名：理化检验（化学分册）
• 出版年：2011
• 卷期：47^b10
• 关键词：萤石 ; X射线荧光光谱20^a氟化物矿物 ; 二氧化硅 ; 氧化铝 ; 铁 ; 实验研究
• 页码：1162～1164
• 索书号：P150.67/571
• 图表：^c表3参3
• 分类号：2300
• 文摘期号：2012/05

摘要

应用X射线荧光光谱法(XRFS)测定了萤石中氟化钙、二氧化硅、氧化铝和全铁的含量。采用熔融法制备样块，称取粒径小于0.125 mm的试样1.000 g于铂坩埚中与硝酸钾0.2 g、碳酸锂1.0 g及无水四硼酸锂5.0 g混合均匀，加入150 g·L^-1溴化锂溶液3滴，于1 050 ℃熔融20 min，所得熔块用XRFS对上述4种组分进行测定。对含有还原性物质的试样采用先在铂坩埚中加入无水四硼酸锂熔融，使熔剂均匀粘涂于坩埚内壁的下部和底部，冷却后再用硝酸钾及碳酸锂按程序在低温预氧化后升至高温对样品进行熔融，所得熔块用于XRFS分析，用标准样品按试验方法制备工作曲线。应用该法分析了4个萤石样品，上述组分的测定值与化学法的测定值相符。