联用筛析法与激光法进行粒度接序分析的界点选择

详细信息   

• 责任者：冷伟^c同济大学海洋地质国家重点实验室^d1989^e硕士研究生 ; 范代读
• 刊名：沉积学报
• 出版年：2014
• 卷期：32^b3
• 页码：478～484
• 索书号：P371.066/243
• 图表：^c表1参12插图
• 文摘期号：2014/11

摘要

筛析法、激光法和图像法是三种常用的粒度分析方法，但由于测试原理的不同，三种测试方法有不同的适用性。筛析法和图像法能够精确测量砂质颗粒的粒径，但不适用于泥质细颗粒(＜0.063 mm)的粒径测量；相反，激光法无法准确测量中粗砂粒级颗粒(2～0.21 mm)，但能高精度测量较细沉积物粒径。分选较差的天然沉积物粒径分布范围较广，需要综合运用筛析法‐激光法进行接序粒度测试。通常选用2 mm为界点开展接序粒度分析，但因激光法在测量中粗砂颗粒时误差较大，易导致接序粒度分析结果准确性不高。建议以0.21 mm为分界点开展接序粒度分析，分别避开筛析法和激光法测量精度不高的粒级区间，可使测试结果的准确性得到有效的提高。