高分辨率阵列侧向测井响应数值模拟

详细信息   

• 责任者：范宜仁^c中国石油大学（华东）^d1962^f教授 ; 蒋建亮 ; 邓少贵 ; 陈华
• 刊名：测井技术
• 出版年：2009
• 卷期：33^b4总203
• 关键词：侧向测井20^a高分辨率法 ; 数值模拟 ; 有限元法 ; 电阻率 ; 正演问题 ; 电测井30^a阵列侧向测井
• 页码：333～336
• 索书号：P635.06/649-2
• 图表：^c参7插图
• 分类号：2100
• 文摘期号：2010/03

摘要

阵列侧向测井能够提供R_L，A0～R_L，A5等6条不同探测深度的电阻率曲线，可以直观反映地层不同径向深度电阻率的变化。利用有限元方法，在简化的二维非均匀介质模型下对阵列侧向测井响应进行了数值模拟，研究了不同层厚、侵入带、井眼条件下阵列侧向测井响应，与双侧向测井响应进行了对比。研究表明，阵列侧向测井所测得的R_L，A5～R_L，A1等5条电阻率曲线为同时反演侵入深度、侵入带电阻率和原状地层电阻率提供了丰富的信息;其多条不同探测深度的电阻率曲线探测深度依次增加，受围岩影响小，能够详细描述侵入剖面，真实地反映地层电阻率径向分布;R_L，A0探测深度最浅，主要反映井眼泥浆的电阻率情况，为准确了解井眼内及井壁附近的电阻率分布提供了依据。在实际应用中应结合实际现场的各方面因素对阵列侧向测井曲线进行全面的分析。