采用X射线粉晶衍射仪实现岩石薄片中矿物的原位微区分析

详细信息   

• 责任者：肖平^c中国地质大学(武汉)地质过程与矿产资源国家重点实验室^e博士生^f讲师 ; 陆琦 ; 于吉顺
• 刊名：矿物岩石
• 出版年：2014
• 卷期：34^b1总135
• 关键词：X射线衍射分析20^a原位测试 ; 方沸石
• 页码：6～9
• 索书号：P310.6/967-1
• 图表：^c表1参12插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：2014/08

摘要

采用帕纳科(PANalytical)公司生产的型号为X\pert PRO的X射线粉晶衍射仪，对鄂尔多斯盆地方沸石岩薄片中的方沸石进行原位微区衍射，成功地确定了方沸石的物相。此次实验中，仪器在入射光路，配备点光源和光导毛细管，毛细管直径为100 um；衍射光路上则使用了超能探测器(X′Celerator)。实验条件为：加速电压40 kV，电流40 mA，Cu靶，Ni滤波。将获得的方沸石衍射数据与编号为41‐1478标准卡片对比，发现实验结果具有一定程度的定向性。在此基础上，提出微区X射线粉晶衍射方法的样品需满足两个要求：（1）矿物颗粒的粒径小于30 um；（2）在X光束照射的区域内，同种矿物的颗粒要含量集中。该方法与电子探针分析相结合，可以更准确地鉴定矿物。