苯基荧光酮Ｔｒｉｔｏｎ Ｘ１００分光光度法测定地质样品中的微量锗
详细信息
- 责任者：胡超涌^c中国地质大学（武汉）应化系 ; 赵中一 ; 金继红 ; 张庆合 ; 王宗花^c青岛大学化学系
- 刊名：地质实验室
- 出版年：1998
- 卷期：１４^b１总６９
- 关键词：分光光度法 ; 锗20^a痕量元素分析 ; 灵敏度 ; 试剂 ; 准确度
- 页码：４～７
- 索书号：P340.6/208-13
- 图表：表２参５插图
- 分类号：2300
- 文摘期号：1998/07
摘要
报导了苯基荧光酮（ＰＦ）Ｔｒｉｔｏｎ Ｘ１００测定锗的体系。实验表明，在４０ｍｏｌ／Ｌ Ｈ３ＰＯ４介质中，Ｇｅ４＋与ＰＦＴｒｉｔｏｎ Ｘ１００能形三元体系的组成比为１∶４的高灵敏度配合物，其ε＝１５３×１０５，λｍａｘ＝５０８ｎｍ。Ｇｅ浓度在０～１２μｇ／２５ｍｌ范围内服从比尔定律，显色稳定时间超过２４ｈ。在高浓度Ｈ３ＰＯ４介质中显色，岩矿中常见干扰离子Ｓｎ、Ｗ、Ｍｏ、Ｔｉ、Ｓｂ、Ｇａ、Ｎｂ、Ｔａ的显色受到抑制，不干扰Ｇｅ的测定。该法有很高的选择性，无需分离或掩蔽，可直接测定地质样品中的微量锗，经地质标样验证，其测定值与标准推荐值吻合。（陈善科）