氢键作用对纳滤过程荷电效应的影响

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• 出版年：2009
• 作者：王刚；王翔；张宇峰；杜启云；张宏伟
• 单位1：天津工业大学中空纤维膜材料与膜过程教育部重点实验室
• 出生年：1984
• 学历：硕士
• 语种：中文
• 作者关键词：氢键；极性分子；纳滤；截留率；电子传递
• 起始页：610
• 总页数：4
• 刊名：材料科学与工程学报
• 是否内版：否
• 刊频：双月刊
• 创刊时间：1983
• 主管单位：国家教育部
• 主办单位：浙江大学
• 主编：赵新兵
• 地址：杭州浙江大学材料系
• 邮编：310027
• 电子信箱：jmse@ema.zju.edu.cn
• 卷：27
• 期：4
• 期刊索取号：P822.06 448
• 数据库收录：美国CA源期刊；全国中文核心期刊；中国科技论文统计源期刊；中国科学引文数据库来源期刊；美国CSA收录期刊
• 核心期刊：全国中文核心期刊

摘要

极性有机分子可以和聚酰胺类纳滤膜表面形成众多氢键，从而削弱纳滤膜的荷电效应。论文选择几种典型极性分子，探讨氢键作用对纳滤过程荷电效应的影响。结果表明，在极性分子和聚酰胺类纳滤膜形成氢键的过程中，聚酰胺纳滤膜对电解质的截留率有所下降。这种影响随分子极性增强而更加明显；当温度升高时，氢键遭到破坏，截留率有所回升。