钨钴合金粉中21种杂质元素的直流电弧发射光谱分析

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• 出版年：2006
• 作者：任凤莲；李彤；许永林
• 单位1：中南大学化学化工学院
• 出生年：1964
• 职称：教授
• 语种：中文
• 作者关键词：钨钴合金粉；杂质元素；发射光谱
• 起始页：58
• 总页数：4
• 刊名：冶金分析
• 是否内版：否
• 刊频：双月刊
• 创刊时间：1981
• 主办单位：钢铁研究总院 中国金属学会
• 主编：王海舟
• 地址：冶金分析编辑部
• 邮编：100081
• 电子信箱：yjfx@analysis.org.cn yejinfenxi@163.com
• 网址：http://www.yejinfenxi.cn
• 卷：26
• 期：5
• 期刊索取号：P340.6262-1
• 数据库收录：美国工程信息公司EI数据库收录期刊
• 核心期刊：全国中文核心期刊 美国“CA”千种表中国化学化工类核心期刊

摘要

介绍用氟化钠作载体，采用载体分馏法，以直流电弧阳极激发在WSP-1平面光栅摄谱仪上一次摄谱，同时测定钨钴合金粉中Fe，Si，Ti，V，Cr，Ca，Mn，Mg，Al，Ni，Cu，Bi，Sn，Pb，Yb，Y，Cd，Nb，Mo，Sb，La 21种杂质元素的发射光谱分析方法。测定下限为0.05～36μg/g，回收率为90.5%～125.3%．相对标准偏差为6.7%～20.1%。