高比表面积Ag掺杂SiO₂气凝胶的制备及表征

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• 出版年：2008
• 作者：杨小云；周斌；肖淑芳；杜艾；吴广明；沈军
• 单位1：同济大学波耳固体物理研究所上海市人工微结构材料与技术重点实验室
• 出生年：1985
• 学历：硕士研究生
• 语种：中文
• 作者关键词：SiO₂气凝胶；掺杂；高比表面积；纳米银
• 起始页：735
• 总页数：4
• 经费资助：国家高技术863计划（2007AA804137），教育部国防基础科研培育项目计划（A1420060199），上海科技启明星计划（05QMX1454），上海市科委纳米技术专项（0652nm044），上海市科委科技攻关计划（052211010）
• 刊名：材料科学与工程学报
• 是否内版：否
• 刊频：双月刊
• 创刊时间：1983
• 主管单位：国家教育部
• 主办单位：浙江大学
• 主编：赵新兵
• 地址：杭州浙江大学材料系
• 邮编：310027
• 电子信箱：jmse@ema.zju.edu.cn
• 卷：26
• 期：5
• 期刊索取号：P822.06 448
• 数据库收录：美国CA源期刊；全国中文核心期刊；中文科技论文统计源期刊；中国科学引文数据库来源期刊；美国CSA收录期刊
• 核心期刊：全国中文核心期刊

摘要

以正硅酸乙酯（TEOS）为前驱体，硝酸银为掺杂剂，采用酸碱两步催化sol-gel方法，获得掺杂纳米Ag微晶的SiO₂气凝胶，其中银的掺入量在1%-30%wt范围内可控。用红外光谱（IR）、透射电子显微镜（TEM）、X射线荧光（XRF）、X射线衍射（XRD）和比表面积仪（BET）技术分析了气凝胶的结构组成和掺杂物质的存在形式。测量显示，Ag-SiO₂气凝胶平均孔径在15nm左右，比表面积在500m2）/g以上；掺杂物以单质银微晶形式存在，微晶大小在50nm左右。