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X射线荧光光谱分析检出限计算公式
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  • 出版年:1992
  • 作者:包生祥
  • 单位1:中国科学院兰州地质研究所
  • 语种:中文
  • 作者关键词:XRFS;检出限;计算公式
  • 起始页:93
  • 总页数:4
  • 刊名:光谱学与光谱分析
  • 是否内版:否
  • 刊频:双月刊
  • 主办单位:《光谱学与光谱分析》编委会
  • 主编:姚元恺
  • 地址:(北京海淀区魏公村学院南路76号)冶金部钢铁研究总院
  • 邮编:100081
  • 卷:12
  • 期:4
  • 期刊索取号:P342.06220
摘要
本文根据测量的统计误差理论,对XRFS分析中不同背景和基体校正方式下的检出限逐-进行讨论并导出了相应的计算公式。所得结论可作为选择微量元素XRFS分析的背景和基体校正方法以及拟定最佳实验条件以获得最低检出限的理论依据。

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