薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
- 标准编号：GB/T 20724-2006
- 其他标准名称：Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
- 标准类型：国家标准
- 关键词：晶体 ; 厚度 ; 厚度测量 ; 晶体检验 ; 电子衍射
- 发布单位：全国微束分析标准化技术委员会
- 发布日期：2006-12-25
- 实施日期：2007-08-01
- 标准分类：方法
- CCS：N53
- ICS：71.040.99
- 英文关键词：CRYSTALS ; THICKNESS ; THICKNESS MEASUREMENT ; CRYSTAL EXAMINATION ; ELECTRON DIFFRACTION
- 起草单位：北京科技大学
- 起草人：柳得橹
- 归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
- 主管单位：国家标准化管理委员会
- 执行单位：全国微束分析标准化技术委员会
- 标准状态：有效
- 页数：6
- 发布年份：2006
- 部分代替标准：,
- 适用范围：本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10<上标 -9>M~×10<上标 -3>M、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。
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