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Life Cycle Reliability Engineering, Guangbin Yang. John Wiley & Sons, Inc. (2007), p. 517. ISBN: 978-0-471-71529-0
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  • 作者：Vallayil N.A. Naikan
  • 刊名：Microelectronics Reliability
  • 出版年：December, 2013
  • 年：2013
  • 卷：53
  • 期：12
  • 页码：2078
  • 全文大小：147 K
文摘

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