SIMS of Delta Layers in Organic Materials: Amount of Substance, Secondary Ion Species, Matrix Effects, and Anomalous Structures in Argon Gas Cluster Depth Profiles

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• 作者：M. P. Seah ; R. Havelund ; I. S. Gilmore
• 刊名：Journal of Physical Chemistry C
• 出版年：2016
• 出版时间：November 23, 2016
• 年：2016
• 卷：120
• 期：46
• 页码：26328-26335
• 全文大小：425K
• 参考文献：
• ISSN：1932-7455

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