Rietveld全谱拟合方法在二次镍渣微晶玻璃中的应用
- 作者：高术杰倪文张福利张思奇吴辉
- 会议时间：2014-09-01
- 关键词：二次镍渣微晶玻璃 ; Rietveld全谱拟合法 ; 结晶度 ; 点阵常数 ; 晶粒尺寸
- 作者单位：北京科技大学土木与环境工程学院,北京 100083
- 母体文献：第五届尾矿与冶金渣综合利用技术研讨会论文集
- 会议名称：第五届尾矿与冶金渣综合利用技术研讨会
- 会议地点：北京
- 主办单位：中国硅酸盐学会工艺岩石学分会
- 语种：chi
- 分类号：TQ1;X77
摘要
利用金川提铁后的二次镍渣经过调质,在一定的热处理制度下能够制备成性能优异、主晶相为普通辉石的矿渣微晶玻璃.通过场发射电子显微镜(FE-SEM)发现,二次镍渣微晶玻璃晶体大小为200~300 nm;透射电子显微镜(TEM)与X射线衍射(XRD)等手段进一步证明该晶体是由30~40 nm更微小的晶粒团聚而成的.通过XRD步进扫描能够精确的测定微晶玻璃的结晶度、点阵常数等参数.