扫描探针DFM模式下的炭黑表面微观结构研究

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• 作者：张敬雨陈建金永中
• 会议时间：2007-09-01
• 关键词：炭黑 ; 微观结构 ; 粗糙度
• 作者单位：四川理工学院材料与化学工程系,自贡,643000
• 母体文献：四川省机械工程学会粉末冶金专委会学术交流会暨成都市2007科技年机械工程学会粉冶年会论文集
• 会议名称：四川省机械工程学会粉末冶金专委会学术交流会暨成都市2007科技年机械工程学会粉冶年会
• 会议地点：四川自贡
• 主办单位：四川省机械工程学会
• 语种：chi

摘要

本文用扫描探针显微镜(SPM)测定了多种炭黑石墨化前后的表面微观结构,测量炭黑粒径以及表面粗糙度等微观参数,并与石墨化前的数据进行比较,结果表明炭黑石墨化后其表面形貌变化不大,但粗糙度却发生了改变,表面凹凸结构降低。并用图像处理软件进行图像分析得到表面粗糙度等数值,得到了一个新的炭黑表征参数-平均表面面粗糙度。同时测定了炭黑比表面积等常规物化性质,结果表明粗糙度值与炭黑常规补强参数间存在着一定的联系,粗糙度值越大,其常规补强参数值亦高。