自制定分析方法中单水平重复性允许差的计算

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• 作者：马永昌李琳朱彬
• 会议时间：2013-10-22
• 关键词：高镁粉 ; 元素含量 ; X荧光玻璃熔片法 ; 允许偏差
• 作者单位：邯钢技术中心,邯郸 056015
• 母体文献：第九届中国钢铁年会论文集
• 会议名称：第九届中国钢铁年会
• 会议地点：北京
• 主办单位：中国金属学会
• 语种：chi
• 分类号：O1;TD9

摘要

本文对自制定分析方法单一水平含量的重复性允许差的计算方法进行了探讨.参照GB/T6379.2-2004 测量方法与结果的准确度(正确度与精密度)第2 部分:确定标准测量方法重复性与再现性的基本方法,对三个化验室用X 荧光光谱法得出的高镁粉实验数据,分别整理成单元平均值表和单元标准差表,按照柯克伦检验方法对实验室内部的变异(即单元标准偏差)进行检验,将按照该方法得出的统计量与柯克伦检验的临界值进行比较,如有离群值,则舍去.按照格拉布斯检验方法对实验室间的变异(即单元平均值)进行检验,将按照该方法得出统计量同格拉布斯检验的临界值进行比较,如有离群值,则同样舍去.最后统计出该自制定方法分析该含量水平高镁粉的参考允许差.