球差矫正电子显微镜在新型二维晶体材料研究中的应用

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• 作者：郭俊杰许并社
• 会议时间：2015-07-18
• 关键词：二维晶体材料 ; 球差矫正电子显微镜 ; 电子能量损失谱 ; 原子分辨率
• 作者单位：太原理工大学新材料界面科学与工程教育部重点实验室,山西太原030024
• 母体文献：第十一次全国热处理大会论文集
• 会议名称：第十一次全国热处理大会
• 会议地点：太原
• 主办单位：中国机械工程学会热处理分会
• 语种：chi
• 分类号：O46;TN1

摘要

近年来,二维晶体材料由于其独特的微观结构和新颖的物理化学性能得到了诸多领域研究者的广泛关注.本文简要介绍了球差矫正电子显微学在新型二维晶体材料研究中的最新进展.装备有球差矫正器的新型电子显微镜在低加速电压下(60kV)的分辨率可以达到~0.1nm,避免了对B,C,N和O等轻元素原子的knock-on损伤.通过原子分辨率的电子能量损失谱分析验证了原子序数衬度成像在二维晶体观测中的可靠性.利用球差矫正电子显微成像技术在二维晶体中快速准确判断掺杂原子的种类,可以研究二维晶体材料中原子尺度的界面和缺陷结构,这一进展将对晶体结构学、材料科学、物理学等产生重大影响.