光谱法测定银覆盖层厚度

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• 作者：李武军何涛李玉鹍李素青孙梦寅王振
• 会议时间：2011-11-22
• 关键词：镀银饰品 ; 银覆盖层 ; 光谱仪 ; 厚度测定
• 作者单位：李武军,李玉鹍,李素青(国家首饰质量监督检验中心,北京100101)何涛,孙梦寅,王振(北京市食品安全监控中心,北京100041)
• 母体文献：2011中国珠宝首饰学术交流会论文集
• 会议名称：2011中国珠宝首饰学术交流会
• 会议地点：北京
• 主办单位：中国珠宝玉石首饰行业协会
• 语种：chi
• 分类号：O65;X13

摘要

采用X荧光能量色散光谱仪、原子吸收光谱仪、电感耦合等离子体发射光谱仪对银覆盖层的厚度检测进行研究,结果表明,用(19:1)硫硝混酸溶解银覆盖层速度快,而且铜基体溶解相对最少.用原子吸收光谱仪和电感耦合等离子体发射光谱仪测定溶液中的银含量,从而得到银覆盖层的厚度.