用户名: 密码: 验证码:
偏光显微镜在岩矿鉴定工作中的使用技巧和方法
详细信息    查看全文 | 推荐本文 |
  • 作者:冯俊环
  • 关键词:偏光显微镜 ; 岩矿鉴定 ; 技巧 ; 方法
  • 中文刊名:GSKJ
  • 英文刊名:Gansu Science and Technology
  • 机构:甘肃省地质矿产勘查开发局第一地质矿产勘查院;
  • 出版日期:2019-03-15
  • 出版单位:甘肃科技
  • 年:2019
  • 期:v.35
  • 语种:中文;
  • 页:GSKJ201905011
  • 页数:3
  • CN:05
  • ISSN:62-1130/N
  • 分类号:28-30
摘要
偏光显微镜是光学显微法进行岩矿鉴定的基本工具,也是研究矿物光学性质的重要仪器,比普通生物显微镜更为复杂,最主要的区别是装有两个偏光镜。本文以CarlZeissAxioScope.A1型为例介绍了偏光显微镜的使用方法和使用技巧,为同仁们学习交流提供浅显易懂的学习心得。
        
引文
[1]康维国,梁万通,刘亚琴.晶体光学[M].长春:东北师范大学出版社,1993.
    [2]李德惠,晶体光学[M].北京:地质出版社,1984.
    [3]常丽华,陈曼云.透明矿物薄片鉴定手册[M].北京:地质出版社,2006.
    [4]北京大学地质系.光性矿物学[M].北京:地质出版社1979.
    [5]穆克敏.透明薄片综合鉴定[M].长春:长春地质学院内部教材1985.
    [6]路凤香,桑隆康.岩石学.[M].北京:地质出版社,2001.
    [7]林景仟.火成岩岩类学与岩理学[M].北京:地质出版社,1995.
    [8]曾允孚.沉积岩岩石学[M].北京:地质出版社,1985.
    [9]姜在兴.沉积学[M].北京:石油工业出版社,2003.
    [10]贺同兴,李树勋.变质岩岩石学[M].北京:地质出版社,1988.
    [11]陈曼云,刘喜山.变质岩岩石学实验指导书[M].北京:地质出版社,1990.
    [12]种瑞元.岩石分类命名与鉴定[M].辽宁省地矿局内部资料,1984.
    [13]张旗,周云生. Winkler H D F.变质岩成因[M].北京:科学出版社,1980.

© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有 京ICP备05064691号 京公网安备11010802017129号

地址:北京市海淀区学院路29号 邮编:100083

电话:办公室:(+86 10)66554848;文献借阅、咨询服务、科技查新:66554700