叶腊石微结构及其晶体结构缺陷的高分辨透射电镜分析

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• 责任者：严俊^c浙江工业大学^d1980^e在读博士 ; 张俭 ; 胡仙超 ; 姚程 ; 方伟 ; 盛嘉伟
• 刊名：矿物学报
• 出版年：2012
• 卷期：32^b1
• 关键词：叶蜡石 ; 晶体结构 ; 扫描电子显微术 ; 晶体缺陷20^a实验研究 ; X射线衍射分析 ; 微结构 ; 层状硅酸盐
• 页码：65～73
• 索书号：P310.66/967
• 图表：^c表1参22插图
• 分类号：0200
• 文摘期号：2012/10

摘要

采用场发射扫描电镜(FE‐SEM)、高分辨透射电镜(HRTEM)结合选区电子衍射(SAED)、X射线粉晶衍射(XRD)及X射线荧光光谱(XRF)等对浙江青田叶腊石的微结构特征进行较系统的研究。结果表明:(1)粉晶X射线衍射证实青田叶腊石具有典型的单斜晶系特征，该结论与叶腊石粉体选区电子衍射结果吻合，且其伴生矿为石英。(2)叶腊石微晶体呈“复式板片”构型，且“复式”板片中薄片厚度约为（8±2) nm。(3)在高能电子束辐照下，叶腊石矿物颗粒形貌及晶格结构发生明显的改变，且由此产生晶格膨胀，并最终形成非晶态。