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相控阵超声无损检测系统的研制
详细信息   |
  • 出版年:2004
  • 作者:徐西刚;施克仁
  • 单位1:清华大学机械工程系
  • 语种:中文
  • 作者关键词:超声检验;相位控制;信号处理;探头设计
  • 起始页:116
  • 总页数:4
  • 刊名:无损检测
  • 是否内版:否
  • 刊频:月刊
  • 创刊时间:1979
  • 主管单位:中国科学技术协会中国机械工程学会
  • 主办单位:上海材料研究所
  • 主编:王务同
  • 地址:上海市邯郸路99号
  • 邮编:200437
  • 电子信箱:ndt@mat-test.com;jndt@21ca.com
  • 网址:www.mat-test.com;www.chsndt.com
  • 卷:26
  • 期:03
摘要
以探讨相控阵超声无损检测系统的研制为目的,从相控阵原理着手,对检测系统的工作机理及系统组成进行简略阐述,重点研究阵列探头设计、相位精确控制、超声信号模拟/数字处理及缺陷成像中的关键技术。最后利用系统进行了试块检测成像对比试验。初步试验和研究表明,相控阵超声无损检测系统比传统单探头超声无损检测具有信噪比高、缺陷分辨力强、有效探伤范围宽以及工作效率高等特点。

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