便携式X荧光仪在覆盖区元素垂向迁移研究中的应用

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• 作者：袁兆宪成秋明
• 会议时间：2012-10-26
• 关键词：钼矿床 ; 覆盖层沉积物 ; 元素迁移 ; 便携式X荧光仪
• 作者单位：中国地质大学地质过程与矿产资源国家重点实验室,湖北武汉430074中国地质大学资源学院,湖北武汉430074
• 母体文献：第四届全国应用地球化学学术会议论文集
• 会议名称：第四届全国应用地球化学学术会议
• 会议地点：成都
• 主办单位：中国矿物岩石地球化学学会
• 语种：chi

摘要

使用便携式X荧光仪(Niton XL3t 950)时标样、已知化学分析结果的粉末样及来自迪彦钦阿木钼矿钻孔中的覆盖层沉积物样进行了测试,发现仪器在30S后即开始趋于稳定,具有较高的准确度且结果重复性良好;仪器对大于检出限的样品检出结果良好,膜的厚度不同会使得测量结果发生近同比例的增减。由覆盖层沉积物的PXRF测量结果可以得出以下结论:由于覆盖时间短,下伏成矿元素Mo没有明显的大规模向上迁移,只在局部发生了短距离的迁移,原地破碎及外来冲击沉积的粗颗粒物质提供了迁移成矿元素来源;成矿元素在粉细砂中发生了个位数米级距离的迁移,但到粘土位置终止,一定程度上表明粉细砂对成矿元素Mo的透过性优于粘土。因此,便携式X荧光仪可以快速获取覆盖层沉积物元素含量,为评价垂向元素迁移、分析元素迁移机理提供了条件,具有广泛的应用前景。