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1.薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
标准编号：GB/T 20724-2006
标准类型：国家标准
发布单位：全国微束分析标准化技术委员会
发布日期：2006-12-25
实施日期：2007-08-01
2.超薄石材复合板
标准编号：GB/T 29059-2012
标准类型：国家标准
发布日期：2012-12-31
实施日期：2013-09-01
3.天然板石
标准编号：GB/T 18600-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国石材标准化技术委员会(SAC/TC460)
发布日期：2009-03-25
实施日期：2010-01-01
4.天然石灰石建筑板材
标准编号：GB/T 23453-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国石材标准化技术委员会(SAC/TC 460)
发布日期：2009-03-25
实施日期：2010-01-01
5.天然砂岩建筑板材
标准编号：GB/T 23452-2009
标准类型：国家标准
关键词：岩石 ; 板材 ; 施工材料砂 ; 砂岩 ; 天然的
发布单位：全国石材标准化技术委员会(SAC/TC 460)
发布日期：2009-03-25
实施日期：2010-01-01
6.硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法
标准编号：GB/T 24574-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
7.低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
标准编号：GB/T 24581-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
8.硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
标准编号：GB/T 1557-2006
标准类型：国家标准
关键词：硅 ; 晶体 ; 间隙氧 ; 含量测定
发布单位：全国有色金属标准化技术委员会
发布日期：2006-07-18
实施日期：2006-11-01
9.酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质
标准编号：GB/T 24582-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
10.硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
标准编号：GB/T 14144-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
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