利用对称四极横向剖面法探测走滑断层的应用

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• 责任者：吴子泉^c山东省地震工程研究院 ; 王成虎^c中国地震局地壳应力研究所 ; 谭捍东^c中国地质大学(北京) ; 冯锐^c中国地震局地球物理研究所 ; 程久龙^c山东科技大学
• 刊名：地震学报
• 出版年：2006
• 卷期：28^b1
• 关键词：电阻率法 ; 电法勘探 ; 地电阻率 ; 走滑断层20^a活动断层 ; 数值模拟 ; 应用 ; 实验研究30^a对称四极横向剖面法
• 页码：70～75
• 索书号：P263.066/208-1
• 图表：^c参3插图
• 分类号：2100
• 文摘期号：2006/09

摘要

从走滑断层难以探测的实际出发,讨论了其物性特征;通过对低阻板模型的物理模拟、数值模拟以及对实地观测资料的分析,研究了对称四极纵、横向剖面法视电阻率曲线的变化特征和差异。结果表明,横向剖面法相对纵向剖面法异常幅度明显增加,可对地震活动断层进行更为有效的探测和定位。这一研究为走滑断层探测提供了新的思路。同时,利用对称四极横向剖面法可以解决走滑断层难以探测的技术难题。