一种断层解释的新方法——双相干相关法
详细信息   
摘要
采用双相干相关法来检测微小断层,并估计其落差。理论和实例计算表明,该方法行之有效且具有分辨率高、抗噪能力强、对介质随机不均匀性的压制和对断点绕射不敏感等特点。(奇石录)

© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有 京ICP备05064691号 京公网安备11010802017129号

地址:北京市海淀区学院路29号 邮编:100083

电话:办公室:(+86 10)66554848;文献借阅、咨询服务、科技查新:66554700