压缩Ｘ因子导数光谱法测定痕量锗

详细信息   

• 责任者：吴庆生^c安徽农业大学应化系 ; 丁亚平 ; 渠荣？^c安徽地矿测试中心 ; 程丽娅 ; 倪其道^c中国科技大学
• 刊名：分析化学
• 出版年：1995
• 卷期：２３^b１１
• 关键词：光度学 ; 光谱学 ; 锗20^a痕量元素分析 ; 试剂 ; 地球化学勘查 ; 灵敏度30^a导数光谱
• 页码：１３３７～１３４０
• 索书号：P155.06/149-2
• 图表：表１参６插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：1996/04

摘要

采用压缩Ｘ因子导数光谱技术实现了宽峰体系（Δλ〖SX(〗１〖〗２〖SX)〗≥３６ｎｍ）灵敏度的大幅度提高，实验表明，在０７２ｍｏｌ／ＬＨ２ＳＯ４和３０ｍｏｌ／ＬＨ３ＰＯ４的混合酸介质中，该体系的压缩Ｘ因子四阶导数光谱摩尔响应系数达１８９×１０－６Ｌｍｏｌ－１Ｃｍ－１。宽峰的ＧｅＳＡＦＯＰ体系的光谱灵敏度提高１２４倍。选择性也进一步改善，绝大多数离子不干扰测定，从而建立了测定痕量锗的方法。其检出限为００００３３ｍｇ／Ｌ，比常规光谱法低４倍。在选定条件，导数响应值与锗浓度在００００８－０００４０ｍｇ／Ｌ范围内呈良好线性关系。该法结合微量技术用于岩石、土壤、水系沉积物等地球化学样品中痕量锗的测定，结果与推荐相吻合。（凡柯）