拉长石晕彩成因的电子探针研究

详细信息   

• 责任者：彭艳菊^c中国地质大学(北京)矿物材料国家专业实验室^d1978^e硕士 ; 何雪梅 ; 方勤方
• 刊名：岩石矿物学杂志
• 出版年：2007
• 卷期：26^b5总109
• 关键词：拉长石 ; 电子探针20^a硅酸盐矿物 ; X射线衍射分析 ; 晶体结构 ; 成因30^a晕彩
• 页码：474～480
• 索书号：P306/357-1
• 图表：^c表3参18插图
• 分类号：0200,2300
• 文摘期号：2009/00

摘要

该文从拉长石晕彩色的空间分布特征研究出发,采用显微镜观察、粉晶X射线衍射及电子探针分析等手段,查明了拉长石不同晕彩区域的结构和成分特征,建立了晕彩拉长石的晕彩色与成分之间的耦合关系,并对拉长石晕彩成因进行了有效的约束。研究结果表明,拉长石的晕彩色是由层状结构对光的干涉所致,其结构单元层由贫钙和富钙两相长石共同组成,当结构层厚度处于128～292 nm之间时出现可见光范围内的干涉色,但结构层表面并不绝对平坦,因而出现了有如地形图中等高线似的干涉色。结构层厚度与钙含量有关,随着钙含量的增加,结构层相应地增厚,晕彩色波长也随之增大。但由于产地和结晶环境的不同,干涉色相同的拉长石钙含量不一定相等,但对于同一产地的拉长石而言,干涉色波长与钙含量呈正相关关系。