以多硫、多碘化合物为缓冲剂发射光谱法测定化探样品中As、Sb、Bi、Cd、Tl、In元素

详细信息   

• 责任者：吴建华^c甘肃省地矿局第二地勘院^d1958^f工程师
• 刊名：甘肃地质
• 出版年：2010
• 卷期：19^b1
• 关键词：发射光谱 ; 砷 ; 锡 ; 铋 ; 镉 ; 铊 ; 铟20^a缓冲剂 ; 试剂 ; 检出限 ; 准确度 ; 精密度30^a多硫化合物 ; 多碘化合物
• 页码：79～82
• 索书号：P251.32/160-4
• 图表：^c表5参6插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：2010/10

摘要

建立了以多硫化合物、多碘化合物为缓冲剂(液体缓冲剂)，上电极为光谱纯石墨电极、下电极为光谱纯石墨加罩电极的方式，采用控制试样法绘制工作曲线，电弧发射光谱法同时测定区域地球化学样品中As、Sb、Bi、Cd、Tl、In等6元素的测定方法。方法检出限为As 1.0 μg/g，Sb 0.2 μg/g，Bi 0.1 μg/g，Cd 0.05 μg/g，Tl 0.1 μg/g，In 0.01μg/g；精密度(RSD，n=12)为As 8.36%，Sb 7.17%，Bi 7.60%，Cd 7.39%，Tl 7.13%，In 6.76%。方法用于测定国家一级标准物质GSD‐1～GSD‐12中As、Sb、Bi、Cd、Tl、In，测定值与标准值或参考值吻合。通过对1∶50 000区域地球化学调查样品中As、Sb、Bi、Cd、Tl、In实际分析，结果成图效果良好，具有简便快捷、成本低、检出限低、精度高等特点。