锦屏一级坝区右岸建基面绿片岩工程地质性质研究

详细信息   

• 责任者：霍俊杰^c成都理工大学地质灾害防治与地质环境保护国家重点实验室^d1973^e博士研究生 ; 黄润秋 ; 严明 ; 林锋 ; 董秀军
• 刊名：太原理工大学学报
• 出版年：2010
• 卷期：41^b6总172
• 关键词：坝基 ; 工程地质性质11^a四川20^a绿片岩 ; 工艺 ; 矿物成分 ; 抗压强度 ; 扫描法31^a锦屏
• 页码：751～755
• 索书号：P806.6/132
• 图表：^c表2参13插图
• 分类号：1600
• 文摘期号：2011/05

摘要

以翔实的现场实测地质资料为基础，对绿片岩的工程地质性质展开了多方面的分析研究;并且运用先进的3D激光扫描工艺，获得了3 500 m²范围内的绿片岩全迹长与单体厚度数据。通过研究得出，绿片岩迹长与厚度均服从对数正态分布，并且二者存在3次多项式关系。最后以研究成果为基础，对绿片岩的处理措施提出了合理建议。