水对上地幔电性结构的影响

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• 责任者：张云霞 ; 胡祥云 ; 高锐 ; 王海燕 ; 万芬 ; 余毅 ; 李建慧 ; 蔡建超 ; 中国地质大学电磁探测与深部资源研究中心 ; 中国地质科学院地质研究所岩石圈研究中心
• 刊名：地质科技情报
• 出版年：2014
• 卷期：33^b3总156
• 页码：51～56
• 索书号：P206/208-46
• 图表：^c
• 文摘期号：2014/10

摘要

上地幔可以存储大量的水，水能够极大地增强地幔矿物的电导率。在实验室高温高压条件下获得了含水和不含水矿物电导率不同的结论，有必要广泛开展含水矿物电导率实验研究。基于最新实验结果，充分考虑上地幔热力学条件，矿物体积随深度变化和矿物间水分配情况，对2个研究小组上地幔4种主要矿物实验室电导率结果采用平均方法建立随水含量变化的上地幔电导率-深度曲线，并与实测地球物理模型进行了对比。研究表明，水能够极大地影响上地幔的电性结构，推测上地幔平均水质量分数为0.01%，位于地球化学方法推断的上地幔水质量分数范围(50×10-6~200×10-6)。海洋上地幔软流圈高电导率异常很可能是碳酸盐熔体、硅酸盐熔体及水共同作用的结果。