高频大地电磁法对薄层探测能力的分析

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• 责任者：戴前伟^c中南大学有色金属成矿预测教育部重点实验室地球科学与信息物理学院^d1968^e博士^f教授 ; 杨坤平 ; 王洪华
• 刊名：工程勘察
• 出版年：2013
• 卷期：41^b4总285
• 关键词：大地电磁法20^a电法勘探 ; 正演问题 ; 数值模拟 ; 视电阻率
• 页码：90～96
• 索书号：P471.06/107
• 图表：^c表9参16插图
• 分类号：2100
• 文摘期号：2013/09

摘要

为了正确认识高频大地电磁法对薄层的分辨能力，该文采用一维大地电磁解析式对含有薄层的地电模型进行视电阻率计算。对有无薄层存在时相应的视电阻率曲线进行了对比分析，详细讨论了薄层物性参数发生变化时视电阻率响应特征，并计算了与无薄层存在时相应的视电阻率曲线的相对误差。根据误差的大小分析了薄层物性参数对高频大地电磁法探测能力的影响，得出了一些有实际指导意义的结论。