薄层树脂相吸光光度法测定痕量锡（ⅠⅤ）的研究
详细信息
- 责任者：阎永胜^c吉林省四平师范学院化学系 ; 隋长青 ; 苏 华 ; 宋艳华 ; 吴海侠 ; 邱景新
- 刊名：地质实验室
- 出版年：1995
- 卷期：１１^b６
- 关键词：光度学 ; 光谱学 ; 锡 ; 水质分析20^a样品制备 ; 试剂 ; 树脂 ; 灵敏度30^a树脂相吸光光度法
- 页码：３３５～３３７
- 索书号：P340.6/208-13
- 图表：表１参５插图
- 分类号：2300
- 文摘期号：1996/06
摘要
提出了用薄层树脂相吸光光度法研究Ｓｎ（Ⅳ）水扬基萤光酮（ＳＡＦ）体系的操作条件。实验表明，在０１ ｍｏｌ／Ｌ的ＨＣｌ介质中，以ＳＡＦ为显色剂，用阴离子交换树脂吸着测定Ｓｎ（Ⅵ）。灵敏度比溶液光度法提高８０倍。除Ａｓ（Ⅲ）、Ｓｂ（Ⅲ）、Ｆｅ（Ⅲ）外，大多数共存离子不干扰测定。该法灵敏度较高，可测定１０－９级的Ｓｎ（Ⅳ），对１０μｇ Ｓｎ的测定，ＲＳＤ＝５４％（ｎ＝６），线性范围０－２５μｇ／５００ｍｌ，检出限８０×１０－８ｍｏｌ／Ｌ（１％吸收）。实测自来水和井水中的Ｓｎ，测定值与ＡＡＳ法相符，加标回收率９３％－９９％（ｎ＝５）。（陈善科）