微波溶样电感耦合等离子体光谱法测定粗氧锑中Ｈｇ和Ａｓ

详细信息   

• 责任者：钟莹^c深圳出入境检验检疫局 ; 何慧 ; 张庆波
• 刊名：光谱学与光谱分析
• 出版年：2000
• 卷期：２０^b２
• 关键词：等离子体发射光谱 ; 汞 ; 砷20^a锑化物矿物 ; 检出限 ; 精密度 ; 准确度30^a消化剂 ; 微波消解法
• 页码：２３２～２３６
• 索书号：P342.06/220
• 图表：表１５参３插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：2000/12

摘要

Hg和As是粗氧锑中的有害杂质元素，其含量范围波动大，不易消化完全。作者经过实验研究，建立了微波消解、ICPAES连续测定粗氧锑中Hg和As的方法。采用盐酸洒石酸氯化钾为消化剂，微波消解样品，测定粗氧锑的相对偏差(RSD)：Hg为087%～32%，As为13%～29%；回收率：90%～107%。将该方法与常规冷蒸气原子吸收法进行对比，并在不同实验室的同一测定条件下进行验证，证实该方法是可靠的。(黄文录)