谱学研究在印章石中的应用:以昌化石为例

详细信息   

• 责任者：袁野^c中国地质大学(北京)地质过程与矿产资源国家重点实验室^e博士生 ; 施光海 ; 何明跃 ; 刘琰
• 刊名：矿物岩石
• 出版年：2011
• 卷期：31^b3总125
• 关键词：光谱学 ; 高岭石 ; 迪开石20^aX射线衍射分析 ; 电子探针 ; 红外光谱 ; 粘土矿物30^a昌化石
• 页码：18～24
• 索书号：P310.6/967-1
• 图表：^c表5参13插图
• 分类号：0200
• 文摘期号：2012/04

摘要

在野外地质工作、显微镜下观察、电子探针分析和差热分析的基础上，运用X射线衍射分析、红外光谱分析对印章石(以著名的昌化石为例)进行了谱学分析。昌化石主要矿物成分为高岭石族矿物，主要为迪开石及高岭石‐迪开石过渡矿物。通过X射线衍射图谱分析计算其结晶度指数(HI)表明，高岭石族矿物的结晶有序度存在明显的高低变化。红外光谱特征显示，其中属于外部羟基振动的3 697 cm^-1谱峰强度(A)与属于内部羟基振动的3 620 cm^-1谱峰强度(B)的比值随着结晶度指数的降低有逐渐升高的趋势，且比值A/B的大小可以大致用来区分高岭石和迪开石:一般高岭石比值大于1，而迪开石小于1。差热分析的结果也印证了高岭石族矿物有序度高低变化的现象，如:高岭石族矿物在加热到400～700 ℃时会出现一个强烈尖锐的吸热峰，吸热峰的强度及温度与其有序度的高低存在正相关性。当主要组成矿物成分为较纯净的迪开石时，其有序度相对较高，透明度也较好;当主要矿物成分为高岭石‐迪开石过渡矿物时，其有序度较低，透明度也较差。X射线衍射分析和红外光谱都是研究分析印章石的有效方法，但X射线分析通常为有损分析，且仪器使用条件相对较高;而红外光谱则可以无损且具有扫描时间短等特点，可见红外光谱在鉴定印章石上是比较便捷有效的。