现场X射线荧光技术在大比例尺地质填图中的应用研究
详细信息
- 责任者：李爽^c成都理工大学 ; 周四春 ; 段新国 ; 刘峰 ; 汪云亮 ; 谭蕾^c贵州工业大学
- 刊名：成都理工大学学报（自然科学版）
- 出版年：2004
- 卷期：31^b3总122
- 关键词：X射线荧光 ; 地质填图20^a原理 ; 仪器 ; 技术 ; 应用
- 页码：311～315
- 索书号：P206.6/228
- 图表：^c表3参2插图
- 分类号：1900
- 文摘期号：2004/12
摘要
探讨了采用X射线荧光现场测量技术开展大比例尺地质填图的理论依据、测试技术、数据处理方法、地质界线划分方法等问题，在此基础上，建立了一套简便易行的现场X射线荧光测量填图工作方法。在两个浮土覆盖矿区开展的1∶5 000～1∶10 000地质填图的初步应用，取得了良好的效果。（常远录）