全反射Ｘ射线荧光光谱仪的研制

详细信息   

• 责任者：李国会^c地矿部物化探所 ; 樊守忠 ; 朱永奉^c地矿部成都地矿所 ; 张天佑^c地矿部科技司
• 刊名：分析测试仪器通讯
• 出版年：1995
• 卷期：５^b３
• 关键词：Ｘ射线荧光 ; 分析仪器20^a灵敏度 ; 原理30^a全反射Ｘ射线荧光光谱仪
• 页码：１２９～１３２
• 索书号：ZC
• 图表：表１参５插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：1996/01

摘要

全反射Ｘ射线荧光光谱（ＴＲＸＲＦ）是近３０年发展起来的一种痕量元素分析技术。ＴＲＸＲＦ分析是一种新的痕量元素分析方法。它具有检出限低、无基体效应和定量分析过程较简单等优点，所以引起了各国Ｘ荧光光谱分析工作者的极大关注。可以预见，它在痕量元素定量和微量样品分析方面，将显示出更大的作用。为促进岩矿分析技术的发展，该仪器的研制被地矿部列入地质科技八五重点项目，委托物探所和成都地矿所联合研制。现已完成全部工作。文章着重介绍了ＴＲＸＲＦ原理及装置的结构特点。该样机与常规的Ｘ射线光谱仪相比，对１２种元素的检出限降低了２－３个数量级。在样机上实测的１２种元素的检出限为０．２－４．０ｎｇ。（陈善科）