发射光谱法快速测定硅酸盐样品中的微量铍

详细信息   

• 责任者：周青生^c核工业二三O研究所 ; 李源 ; 张鑫 ; 林利
• 刊名：中南铀矿地质
• 出版年：2010
• 卷期：24^b2总43
• 关键词：发射光谱分析 ; 铍20^a硅酸盐岩 ; 试剂 ; 准确度
• 页码：80～83
• 索书号：P426.306/140
• 图表：^c表6参6
• 分类号：2300
• 文摘期号：2011/07

摘要

简述了地矿样品中铍的传统化学分析方法及现行的国标法。详细介绍了发射光谱法直接测定硅酸盐样品中微量铍的标准配制过程和相关操作步骤；并通过计算相对偏差校核了5个国家一级标准物推荐值和10个样品内检值(ICP‐OES)与该法结果的一致性；同时分别抽取10％样品作平行分析和外检(ICP‐MS)分析以考察该法的重现性和准确性。基本分析结果与两种检查分析结果之间的相对偏差表明：该法完全符合定量分析硅酸盐样品中微量铍的要求。