RESOlution激光剥蚀系统在微量元素原位微区分析中的应用

详细信息   

• 责任者：涂湘林^c中国科学院广州地球化学研究所同位素年代学和地球化学重点实验室^d1964^e硕士^f高级工程师 ; 张红^c中国科学院研究生院 ; 邓文峰 ; 凌明星 ; 梁华英^c中国科学院广州地球化学研究所成矿动力学重点实验室 ; 刘颖 ; 孙卫东
• 刊名：地球化学
• 出版年：2011
• 卷期：40^b1
• 关键词：ICP—MS ; 微量元素20^a准确度 ; 精密度
• 页码：83～98
• 索书号：P270.6/208-2
• 图表：^c表9参17插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：2011/07

摘要

采用美国Resonetics公司生产的RESOlution M‐50激光剥蚀系统和Agilent 7500a型的ICP‐MS联机，对7个不同岩性的地质样品经过熔融制备的MPI‐DING玻璃标样的37种微量元素进行了分析。RESOlution M‐50激光剥蚀系统包括一个193 nm ArF准分子(excimer)激光器，一个双室(two‐volume cell)样品室，一个平滑激光剥蚀脉冲的Squid系统和电脑控制高精度X‐Y样品台移动、定位系统。双室样品室的好处是降低样品交叉污染，减少样品室吹洗所需时间。平滑激光剥蚀脉冲的Squid系统可以降低因激光脉冲带来的统计误差。样品定位系统的定位精度优于0.1 μm。该次实验使用的激光束斑直径为31和69 μm。分析结果表明，对于用地质样品制备的MPI‐DING玻璃标样，微量元素分析的相对标准偏差RSD一般优于5%，分析值与不同参考值之间的相对偏差(RD)一般优于10%，少数RSD和RD较大的元素主要出现在含量很低或不均匀样品中。稀土元素的RSD和RD均优于5%。本研究证明，RESOlution M‐50激光剥蚀系统与Agilent 7500a型ICP‐MS联机，可准确测定从超基性岩到酸性岩的不同类型地质样品的微量元素，其新式的双室样品室和平滑Squid系统对于测定含量在0.1 μg/g以上的元素具有更好的分析精度和准确度。