膜去溶进样高分辨等离子体质谱技术测定岩石样品中的１７个镧系和锕系元素

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• 责任者：郭冬发^c核工业北京地质研究院 ; 武朝辉 ; 裴玲云 ; 黄秋红 ; 李振涛
• 刊名：质谱学报
• 出版年：1999
• 卷期：２０^b３～４
• 关键词：稀土元素 ; 锕系 ; 质谱法 ; ＩＣＰ20^a检出限30^a高分辨率等离子体质谱法 ; 内标法
• 页码：１０３～１０４
• 索书号：P155.306/884
• 图表：表１
• 分类号：2300
• 文摘期号：2000/09

摘要

采用高分辨率等离子体质谱技术对岩石样品中微量稀土和锕系元素进行分析，以膜去溶微量雾化技术减少氧化物的生成，降低痕量稀土和铀、钍元素的测定下限，提高灵敏度１０倍。该文采用内标法，以１１５Ｉｎ元素做内标元素，测定结果与推荐值间的偏差总体小于１０％。方法的精密度小于７％。（黄文斌）